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Product Center日本NF LCR測試儀ZM系列
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產品分類品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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類型 | 智能LCR測量儀 |
日本NF LCR測試儀ZM系列概述
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域
實現了快速且偏差小的穩定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途
日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現性 測量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376,測量的再現性得到了進一步提高。
● 測量時間:5ms ● 測量頻率:100kHz ● 測量信號電平:1V
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技術參數
早在1959年, 高精度的負反饋控制技術尚未在日本國內普及, 我們就已經以此為基礎, 根據“凡是社會需要的, 就是我們要創造的新產品”的理念, 創建了NF公司。 此后, 我們繼承和發揚了這一先驅精神, 積極探索尚未被人們了解的新領域, 不斷創新并提供獨有產品, 為新一代的產品開發和社會發展做出我們的貢獻。 NF的*技術涉及到極其廣闊的領域, 包括汽車和數字家電等*電子技術、 燃料電池和太陽能發電等清潔能源技術、 納米技術、 以及人造衛星和火箭等宇航技術。今后, 我們仍將繼續鉆研*技術, 不斷地為未來的科技發展提供高新技術產品。